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- 2016-09-19 08:51:02
PLC多通道光测试系统
系统特点:
u 整机外观美观大方,测试方便,友好的人机界面。
u 当系统与测试器件连接好以后,点击开始测试按钮,系统自动对多路器件扫描测试,无需手动测试。
u 测试结果会自动计算存储到数据库、生成Excel等格式文本。
u 可以事先设置好指标门限阈值,测试完成后直接筛选出低于门限的指标,并生成报表。
u 智能化查询、导出测试结果,操作简单、实用。
u 实现无纸化测试,大大提高了器件的生产、测试效率。
u 具有打印功能,直接打印测试记录、产品标签。
u 使用便捷、高效率、高性价比。
技术指标:
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光源波长 |
1310nm、1490nm、1550nm(或其它可选) |
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测试模式 |
单模 |
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测试项目 |
插入损耗(IL)、偏振相关损耗(PDL) |
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光功率测试范围 |
-70~+3dBm |
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光功率测试准确度 |
±0.02dB |
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IL测试准确度 |
±0.01dB |
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PDL不确定度 |
±0.04dB |
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PDL重复性 |
±0.01dB |
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分辨率 |
0.01dB |
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测试通道 |
8通道(可扩展) |
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光输入输出接口 |
FC/SC/ST可选 |
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通信接口 |
RS232 |
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电源 |
AC220V |
综合测试仪(多通道无源器件测试仪,多通道无源器件损耗分析仪)是用来分析多通道
无源光器件的损耗性能,可以准确迅速地得到PLC的损耗。
多通道测试系统采用进口偏振控制器,通过驱动器提供4路直流电压,电压在+5V到-5V范
围内变化,用来动态控制单模光纤产生各种偏振态。无需复位,大于100Hz的响应速度可
以确保偏振控制器能够很好地控制偏振态补偿外部温度、应力的影响。主要用于光器件PMD、PDL测试。