QFN28-0.5芯片测试座IC老化座翻盖编程座镀金插针

芯片测试座 IC老化座翻盖编程座镀金插针 HMILU厂家

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QFN28翻盖弹片测试座

 

产品简介

 

产品用途 适用封装 测试座 特点

编程座、测试座，对QFN28的IC芯片进行烧写、测试

QFN28引脚间距0.5mm

底部引出引脚为不规则排列

 

规格尺寸

QFN28编程座/测试座适用芯片详细规格，以及适配座外形尺寸：

 

型号 引脚间距(mm) 脚位 芯片尺寸      

	0.5	28	5*5