膜厚校正片,测厚仪校正标准片,X-RAY膜厚仪薄膜片

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深圳市鼎极天电子有限公司
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2024-10-28 11:12:28
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 美国CAL标准片CALMETRIC标准片CMI标准片测厚仪标准片CAL校正片,又称标准箔,膜厚片,通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品牌Fischer、Oxford(CMI)、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等,国产天瑞,纳优等)。

 

 

1.薄膜片,单层测量品种:镍(Ni);铬(Cr);铜(Cu);锌(Zn);Cd(镉);锡(Sn);银(Ag);金(Au);钯(Pd)等,其它镀层可定制.

2.镀层标准片:双镀层:Au/Ni/xx,三镀层:Au/Pd/Ni/xx等.

3.合金标准片:合金镀层测量:Sn-Pb、Cu-Zn、Zn-Ni、Ni-P等.

4.测量厚度范围:0.01~300μm.

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