金属镀层测厚仪，金镍厚度测量仪，XRF镀层测量仪

      美国博曼（Bowman）BA-100 台式X射线荧光（XRF）镀层测厚仪-为您提供高精度、快速简便的镀层厚度测量、元素分析，以及电镀液分析。 

      美国博曼（Bowman）分析仪器即使在客户遇到最严格的测试要求时也能够实现快速、方便、高效的XRF分析效果。 

智能的紧凑式设计使得分析各种各样的应用变得更方便，在合理的价格范围内显著提升您的镀层产品质量控制。 

性能与可操作性的最优化 
紧凑式设计，改善效率和精度 
高分辨半导体固态探测器（Si-Pin），提高稳定性和灵敏度 
更短的预热时间，开机5分钟内即可测量产品，更长寿命的光管 
4种规格：0、0.1、0.5、1mm的一次滤波器

可配:

  单准直器（型号：BA-100-B-SFF）

  多准直器（型号：BA-100-B-MFF）

  可变焦多准直器（型号：BA-100-B-MVF） 
可变焦距6.3--mm，以适应复杂样品的测量需求 
模块化设计，方便维修、维护