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- 北京欧普兰科技有限公司
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- 发布时间
- 2020-05-14 17:40:24
HFD back annotation connects the EM model
(either in the s-parameter form of nport, or a PBM model)
back to the RC extracted view, automatically
? User can Launch Cadence ADE with Hierarchical
Editor (HED) to point the cell view to the back
annotated (HFD) view, in the test case, it is
“calibre_peakview”
? Perform Spectre simulation to check the circuit
performance
? For this test case design, the following circuit
performance parameter is checked
1.1. 用PeakView进行scalable model开发PeakView支持无源器件scalable model开发，有完善的流程及成熟的方案。
1.2. de-embedding功能
PeakView中de-embedding模块，可以协助Foundry完成去嵌工作，并提供技术支持；
1.1. special device功能
该功能可以将有源器件和与之相连的无源互联线自动识别出来，用PeakView完成无源部分sim后，将结果与有源器件的SPICE模型进行合并，生成一个整体模型。该模型不仅含有有源部分的模型，也含有无源部分的模型，终可以让Foundry给客户提供一个整体模型；
在 T-coil 的宽度应用中，除了上面对设计优化的考虑外，一些 T-coil 自身问题也需要在
设计中关注并解决。
（1） 片上 T-coil 往往占据顶层金属大量面积，而在顶层电源布线以及非常紧张了，
所以大面积的 T-coil 对顶层设计非常不利；同时，大面积的 T-coil 不仅影响面积
使用率，而且会产生大量功耗。如果不解决大面积 T-coil 问题，想利用 T-coil 设
计多个高速 IO 口的想法将无法实现。
（2） T-coil 也存在可靠性问题。对于 ESD 结构中的 T-coil 也涉及到 ESD 电流路径， Tcoil 自身的串联电阻会引起较低的 ESD 抵抗力，高功耗会破坏 T-coil（尤其在 Tcoil 的一些突变拐角处，很容易受到 ESD 破坏）。另外，如果 IO 电路在常规模式
是大电流情况时， T-coil 可能会由于电迁移导致破坏。为了提升 T-coil 可靠性，
需要设计较宽的金属走线，这又使得 T-coil 面积增加了。
下面几个例子，讨论如何提升 T-coil 可靠性，同时又减小面积：