48芯光缆接续盒内部结构图

48芯光缆接续盒内部结构图48芯光缆接续盒内部结构图48芯光缆接续盒内部结构图48芯光缆接续盒内部结构图48芯光缆接续盒内部结构图48芯光缆接续盒内部结构图光缆接头盒温度循环试验按GB/T 7424.2-2002中F1温度循环的规定进行。温控箱的容积至少应＞被测试样的3倍，调温范围应与试验要求范围相适应，在调定温度下，在式样放置范围内的温度变化应在±3℃以内。

　　在室温下，将试样置入温控箱，以1℃／min的升降速率升温至高温，在高温下恒温2h，接着降至室温，在室温下恒温2h后，然后降温至低温，在低温下恒温2h，再升温至室温，在室温下放置2h，如此构成一个循环，共做10次循环。试验后检测光缆接头盒的气压变化，试验结果应符合5.12.1的规定。

　　持续高温试验

　　试样制备应满足6.4.1的规定。

　　在室温下，将试样置入温控箱，以1℃／min的升降速率升温至高温，在高温下恒温100h，然后将箱中温度降至室温，试样在室温中恢复2h后，检测光缆接头盒的气压变化，试验结果应符合5.12.2的规定。

　　振动试验宁波弘福通信科技有限公司

　　按照GB/T 2423.10-1995进行振动试验。光缆接头盒水平固定在振动试验台，两端距离光缆接头盒出缆口处100×Dmm（D为光缆直径，单位mm）的光缆固定于不振动支架上进行试验，试验结果应符合5.12.3的规定。