一六仪器 光谱膜厚仪 丽水测厚仪

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发布时间
2020-12-14 10:20:37
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一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,光谱膜厚仪,专利独特聚焦和变距设计,光谱分析仪,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例

涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时,如果不了解涂层测厚仪的操作规程,那么就很容易出现一些问题,丽水测厚仪,甚至严重的可能会对自身产生威胁,那么涂层测厚仪的操作规程有哪些,下面就来了解下先:

一、技术参数

采用了磁性和涡流两种测厚方法。通过选择相应的测头,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度;

测量范围:(0~1250)μm(F1、N1测头),F10测头可达10mm;

分辨率:0.1μm(F1、N1测头)

示值精度:±(3%H 1)μm;H为被测涂层厚度

显示方法:高对比度的段码液晶显示,高亮度EL背光;

存储容量:可存储20组(每组多50个测量数值)测量数据

单位制:公制μm、英制(mil)、可自由转换 ? 工作电压:3V(2节5号碱性电池)

持续工作时间:大于200小时(不开背光灯)

通讯接口:USB1.1,可与PC机连接、通讯









一六仪器 国内外通力合作打造高性价比X荧光测厚仪

一六仪器研发生产的X荧光光谱仪,稳定的多道脉冲分析采集系统,专利独特聚焦和变距设计,多元EFP算法,简便快速测试各种涂镀层的厚度及成分比例


涂层测厚仪操作规程有哪些

我们在使用涂层测厚仪时,如果不了解涂层测厚仪的操作规程,那么就很容易出现一些问题,甚至严重的可能会对自身产生威胁,那么涂层测厚仪的操作规程有哪些,下面就来了解下先:


二、 操作流程图

开启仪器 —— 校准仪器 —— 进行测量 —— 关闭仪器

三、操作步骤

基本测量步骤

1. 准备好待测工件;

2. 将测头插头插入主机的测头插座中;

3. 仪器开机;



一六仪器X射线荧光测厚仪 研发生产厂家 品质保证

江苏一六仪器有限公司是一家专注于光谱分析仪器研发、生产、销售的高新技术企业。公司位于上海和苏州中间的昆山市城北高新区。我们专业的研发团队具备十年以上的从业经验,经与海内外多名专家通力合作,镀层膜厚仪,研究开发出一系列能量色散X荧光光谱仪。稳定的多道脉冲分析采集系统、先进的解谱方法和EFP算法结合精准定位及变焦结构设计,解决了各种大小异形、多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题。

测厚仪介绍:可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度,并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统,以实现 对板带厚度的自动厚度控制(AGC)。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种,其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊,目的是降低板厚的滞后调整时间。




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