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- 江苏一六仪器有限公司
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- 发布时间
- 2020-12-19 10:32:10
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
江苏一六仪器 X荧光测厚仪测试要求：
工作要求：
1 环境温度要求：15℃-30℃
2 环境相对湿度：lt;70%
3 工作电源：交流220±5V
4 周围不能有强电磁干扰。
5 Max功率 ：330W
6 外形尺寸 ：550 mm x 480mm x 470 mm （长x宽x高）
7 样品仓尺寸 ：500mm×360 mm ×215mm （长x宽x高）
8 仪器重量 ：55kg
9 分析软件EFP，可同时分析23层镀层，24种元素，不同层有相同元素也可分析
10 软件操作人性化封闭软件，镀层分析仪，自动提示校正和步骤，避免操作错误
11 X射线装置：W靶微聚焦加强型射线管
一六仪器 专业测厚仪 多道脉冲分析采集，先进EFP算法 X射线荧光镀层测厚仪
应用于电子元器件，LED和照明，家用电器，通讯，汽车电子领域.EFP算法结合精准定位决了各种大小异形多层多元素的涂镀层厚度和成分分析的业界难题
这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。
随着技术的日益进步，特别是近年来引入微机技术后，采用磁性法和涡流法的测厚仪向微型、智能、多功能、、实用化的方向进了一步。测量的分辨率已达0.1微米，精度可达到1%，有了大幅度的提高。它适用范围广，量程宽、操作简便且价廉，是工业和科研使用广泛的测厚仪器。采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基材，检测速度快，能使大量的检测工作经济地进行。
一六 荧光测厚仪 十年以上研发团队 集研发生产销售一体
元素分析范围:氯(CI)- 铀(U) 厚度分析范围:各种元素及有机物
一次可同时分析:23层镀层，24种元素 厚度检出限:0.005um
选择Elite（一六仪器）X射线荧光镀层测厚仪理由：
根据IPC规程，必须使用整块的标准片来校正仪器，对于多镀层的测量，目前大多数客户购买的测厚仪采用的是多种箔片叠加测量校正，比如测量PCB板上的Au/Pd/Ni/Cu，因为测量点很小，测量距离的变化对测量结果有较大影响，如果使用Au，Pd，Ni三种箔片叠加校正，校正的时候箔片之间是有空气，并且Pb元素与空气的频谱重叠，以上会对测量结果产生较大影响，Elite（一六仪器）测厚仪有电镀好的整块的Au/Pd/Ni/base标准片，不需要几种箔片叠加校正，可以确保镀层测量的准确性。
2、采用微聚焦X射线管，油槽式设计，荧光测厚仪，工作时采用油冷，长期使用时寿命更长。微聚焦X射线管配合比例接收能实现高计数率，可以进行测量。
3、Elite（一六仪器）WinFTM专用软件，具有强大且界面友好、中英文切换，光谱膜厚仪，多可同时测量23层镀层，扬州测厚仪，24种元素，测量数据可直接以WORD格式或EXCEL格式输出、打印、保存。采用基本参数法（FP），有内置频谱库，无论是镀层系统还是固体和液体样品，都能在没有标准片的情况下进行准确的分析和测量。
4、 Elite（一六仪器）针对PCB（印制电路板）线路板上的镀层厚度及分析而设计的X射线荧光测厚仪（XDLM-PCB200/PCB210系列）具有以下特点：1）工作台有手动和程序控制供客户选择，2）采用开槽式设计和配置加长型样品平台，用于检测大尺寸的线路板。