TG-61320C两箱式高低温冲击试验箱

TG-61320C两箱式高低温冲击试验箱仪器设备用途：

高低温冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括汽车电子/部件、LED/LCD/PDP显示照明、新能源/电子元件/电器、塑胶/橡胶/薄膜、科研/质检/院校/医疗器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行业领域等材料，可作为其产品品质验证或改进的依据和参考。

TG-61320C两箱式高低温冲击试验箱适用于标准:

1：GB/T 高低温试验箱技术条件；

2：GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 (IEC :2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 (IEC :2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 (IEC 4:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 军用设备环境试验方法 第3部分 高温试验；

6：GJB/T 150.4-2009军用设备环境试验方法 第4部分 低温试验；:

7：GJB/T 150.5-86 军用设备环境试验方法 第5部分 温度冲击试验。

TG-61320C两箱式高低温冲击试验箱产品特点：

1： 泰规仪器生产的新一代高低温冲击试验箱（2箱），箱体结构、制冷系统、控制技术均有较大的技术改革，运行更可靠，维护更方便。

2：制冷机采用原装进口“泰康”或“ 比泽尔”。

3：控制系统采用彩色触摸屏中英文显示按键式操作，外观更加简单大方，操作设定简单。

4：提篮在高低温室内切换转移，采用气动控制，转换时间短，温度恢复时间短，温变速度快，设备整体结构紧凑，体积小，采用两箱法，提高了工作室的温度均匀程但试件一直处于动态，工作室不能留有测试孔，因此不能带电、带信号、带气源测试。

5：高低温冲击试验箱配备: SD卡储存，USB输出，电脑连接打印，大舱有纸无纸记录等选配。

6：箱体加工采用数控机床加工成型，造型美观大方，并采用无反作用把手，操作简便。壳体采用优质碳素钢板.磷化静电喷塑处理或（选配）SUS304不锈钢雾面线条发纹处理，内部材质均采用SU304不锈钢材质。

7：高低温冲击试验箱配备大型观测视窗附照明灯保持箱内明亮，且利用发热体内嵌式钢化玻璃，随时清晰的观测箱内状况。

TG-61320C两箱式高低温冲击试验箱技术参数：