TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱

高低温冲击试验箱用来测试材料结构或复合材料，在瞬间下经极高温及极低温的连续环境下所能忍受的程度，藉以在短时间内试验其热胀冷缩所引起的化学变化或物理伤害。适用的对象包括汽车电子/部件、LED/LCD/PDP显示照明、电子电工、仪器仪表、新能源/电子元件/电器、塑胶/橡胶/薄膜、科研/质检/院校/医疗器材、PCB/FPC/HDI/MPCB/IC等行业领域等材料，可作为其产品品质验证或改进的依据和参考。

TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱构造概述：

高低温冲击试验箱/冷热高温低温试验室，因为冷热冲击试验箱也是高低温冲击试验箱，所以三槽冷热冲击试验箱也是三槽高低温冲击试验箱。主要结构是由三个槽（高温槽、低温槽、产品槽）组成，高温槽即是生产及储存高温，低温槽即是生产及储存低温，产品槽则是提供给顾客摆放产品的空间容积。冲击原理是采用气体驱逐高、低温槽的冷热温到摆放产品槽的空间内完成试验。

TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱适用于标准:

1：GB/T 10592-2008 高低温试验箱技术条件；

2：GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A：低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

3：GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验B：高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

4：GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分：试验方法 试验N：温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；:

5：GJB 150.3-86 军用设备环境试验方法 第3部分 高温试验；

6：GJB/T 150.4-2009军用设备环境试验方法 第4部分 低温试验；:

7：GJB/T 150.5-86 军用设备环境试验方法 第5部分 温度冲击试验。

8：GJB150.5- 86温度冲击试验;

9：GJB360.7-87温度冲击试验;

10：GJB367.2-87 405温度冲击试验;

11：GB11158-2008高温试验箱技术条件

12：GB10589-2008低温试验箱技术条件

 TG-61321D三箱式高低温冲击试验箱技术参数：