SEM扫描电子显微镜 ZEISS扫描电镜

 蔡司GeminiSEM系列高对比度、低电压成像的场发射扫描电子显微镜

具有出色的探测效率，能够轻松地实现亚纳米分辨成像。无论是在高真空还是在可变压力模式下，*高的表面细节信息灵敏度让您在对任意样品进行成像和分析时都具备*佳的灵活性，为您在材料科学研究、生命科学研究、工业实验室或是显微成像平台中**各种类型样品在微观世界中清晰、真实的图像，提供灵活、可靠的场发射扫描电子显微镜技术和方案。

 

运用GeminiSEM系列产品，您可轻松**真实世界中任意样品出色的图像和可靠的分析结果

GeminiSEM 500 具有出色的分辨率，在较低的加速电压下仍可呈现给您*强的信号和*丰富的细节信息，其**设计的NanoVP可变压力模式，甚至让您在使用时拥有在高真空模式下工作的感觉;

GeminiSEM 450 具有出色的易用性设计、*快的响应和*高的表面灵敏度，使其能快速、灵活、可靠地对样品进行表面成像和分析，充当您的得力助手;

GeminiSEM 300 具有出色的分辨率、*高的衬度和*大且无畸变的成像视野，可方便地选取适合样品的真空度等环境参数，使FESEM初学者也能快速掌握;

 

基本规格蔡司 GeminiSEM 500 蔡司 GeminiSEM 450蔡司 GeminiSEM 300加速电压探针电流存储分辨率放大倍率标配探测器

可选配的

项目

	热场发射电子枪，稳定性优于0.2 %/h
0.02 - 30 kV
3 pA - 20 nA	3 pA - 40 nA	3 pA - 20 nA
（100 nA配置可选）	（100 nA或300 nA配置可选）	（100 nA配置可选）
较高达32k × 24k 像素
50 – 2,000,000	12 – 2,000,000	12 – 2,000,000
镜筒内Inlens二次电子探测器
样品室内的Everhart Thornley二次电子探测器
镜筒内能量选择背散射探测器
-	角度选择背散射探测器	角度选择背散射探测器
环形STEM探测器（aSTEM 4）
EDS能谱仪
EBSD探测器(背散射电子衍射)
NanoVP可变压力模式
VPSE探测器（包含在NanoVP可变压力选件中）
局部电荷中和器
可订制特殊功能样品台
环形背散射电子探测器
阴*射线荧光探测器