主要特点： 1、仪器符合JEDEC JESD51-1和MIL-STD-750E标准法规。 2、仪器兼具JESD51-1定义的静态测试法与动态测试法，能够实时器件瞬态温度响应曲线，其采样率高达1微秒，测试延迟时间高达1微秒，元器件失效分析价格，结温分辨率高达0.01℃。 3、能测试稳态热阻，河南元器件失效分析，也能测试瞬态热阻抗。 4、的分析法，元器件失效分析设备，能够分析器件热传导路径上每层结构的热学性能，构建器件等效热学模型，是器件封装工艺、可靠性试验、材料热特性以及接触热阻的强大支持工具。因此被誉为热测试中的“X射线”。 5、可以和热软件FloEFD无缝结合，将实际测试得到的器件热学参数导入软件进行后续优化。
微焦点X射线
EFPscan平面CT（又称plane CT），是面向PCB板和电子器件的CT检测系统，具有2D/2.5D/3D X-ray功能，可以离线检测和在线全检。 采用了先进的Computed laminography (CL)扫描模式和算法，具备高速扫描获得清晰断层图像的能力。
扫描速度快
具备可编程的自动识别判断功能
可与产线配合，实现在线检测
PCB板、BGA、CSP、QFP、QFN
功率器件IGBT
开焊、无浸润、气孔、偏移
无损检测就是指在检查机械材料内部不损害或不影响被检测对象使用性能，电子元器件失效分析，不伤害被检测对象内部组织的前提下，利用材料内部结构异常或缺陷存在引起的热、声、光、电、磁等反应的变化，以物理或化学方法为手段，借助现代化的技术和设备器材。对试件内部及表面的结构、状态及缺陷的类型、数量、形状、性质、位置、尺寸、分布及其变化进行检查和测试的方法。
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