SVM Lite光学影像测量仪
使用范围：
本产品适用于产品开发、二维抄数、品质检测等领域，如：钟表零件、电子接插件、五金冲压件、弹簧、线路板等。
SVM Lite系列光学影像测量机是利用放大成像，将显微镜下观测到的物体影像数字化，结合控制软件进物体的几何测量以及绘图，并可将数据表格化以及进行后期处理。适用于机械、电子、电器、模具以及精密五金的检测和设计开发。
主要特征:
◆ 花岗石底座及立柱，结构稳定永不变形
◆ Z轴前置传动系统，人体工学设计，方便操作
规格型号与技术指标：
型号 SVM LITE 2515 SVM LITE 3020 SVM LITE 4030
测量行程 250×150×200 300×200×200 400×300×200
操作方式 手动
放大倍数 光学放大倍率：0.7×-4.5×；影像放大倍率：18×-120×
软件 VSM2.1
光学尺解析度 1um
机台承重 10KG
测量精度 (3+L/150)um
重复性 2um
使用环境 工作温度：18℃～22℃（可保证精度） 工作电压：220V±10%接地电阻小于4欧姆
保修期 一年