制约Mini COB市场渗透率的难点-检测

因为 Micro LED 的芯片尺寸和间隔很小，传统检测设备难以使用，怎样在上百万乃至上千万的芯片上对缺点晶体进行检验、恢复或更换是一个巨大的考验。目前解决方案包含荧光光谱评估和电致发光检测。荧光光谱检测主要采用灯源激起单晶硅片或太阳能电池片，根据对特定波长的发亮数据信号开展收集、数据处理方法，进而鉴别处理芯片缺点。电致发光检测是指，在强静电场影响下，处理芯片里的电子器件变成过热电子后，按照其返回激发态时需传出月亮的光来测试处理芯片缺点。