跌落测试是主要用来模拟未包装或者已包装的产品在搬运期间可能受到的自由跌落损伤，检验产品抗意外冲击的能力。通常跌落高度大都根据产品重量以及可能掉落机率做为参考标准，落下表面应该是混凝土或钢制成的平滑、坚硬的刚性表面（如有特殊要求应以产品规格或客户测试规范来决定）。
对于不同国际规范即使产品在相同重量下但掉落高度也不相同，例如：手持型产品（如手机, MP3等）大多数掉落高度大都介于100cm ~ 150cm不等，IEC对于≦2kg的手持型产品建议应满足100cm之掉落高度不可损坏，而MIL则建议掉落高度为122cm，Intel对手持型产品（如手机）则建议落下高度为150cm。试验的严苛程度取决于跌落高度、跌落次数、跌落方向。中鉴检测可靠性实验室包装跌落试验机，最高可跌落200cm。
（1）跌落测试常规参考标准：
（1）GB/T 2423.8电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
（2）GB/T 4857.5包装 运输包装件 跌落试验方法
（3）IEC 60068-2-32电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ed:自由跌落
（4）ISTA 3A
