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- 发布时间
- 2022-09-25 11:00:18
半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
[物相分析方面的问题] 样品卡与标准卡对比原则?
提供几条原则供大家参考:
1. .对比 d 值比对比强度要重要;
2. 低角度的线要比高角度的线要重要;
3. 强线比弱线重要;
4. 要重视特征线;
5. 同一个物相可能有多套衍射数据,但要注意有的数据是被删除的;
6. 个别低角度线出现缺失;
7. 由于样品择优取向某些线的强度会发生变化;
8. 有时会出现无法解释的弱线,这是正常的,甘肃锂电XRD测试,不能要求把所有的线都得到解释。
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做 XRD 有什么用途啊,能看出其纯度?还是能看出其中含有某种官能团?
X 射线照射到物质上将产生散射。晶态物质对 X 射线产生的相干散射表现为衍射现象,即入射光束出射时光束没有被发散但方向被改变了而其波长保持不变的现象,这是晶态物质特有的现象。
绝大多数固态物质都是晶态或微晶态或准晶态物质,都能产生 X 射线衍射。晶体微观结构的特征是具有周期性的长程的有序结构。晶体的 X 射线衍射图是晶体微观结构立体场景的一种物理变换,包含了晶体结构的全部信息。用少量固体粉末或小块样品便可得到其 X 射线衍射图。
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如何在Jade中采用Sherrer公式计算晶粒尺寸?
Jade软件中直接集成了采用半峰宽来计算样品的晶粒尺寸这一功能,比较方便。要想使用该功能,首先必须在Edit--gt;Preferences--gt;Report里面勾上,Estimate Crystallite Size from FWHM Values。勾上之后就可以很方便的进行粒径分析了,如下图所示,锂电XRD测试价格,采用EditToolbar中的积分按钮,在主峰下拉取基线,会自动弹出窗口,里面包含晶粒尺寸信息。注意,这里算出来的是平均尺寸,且使用范围为3-200 nm。
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