山西XRD物相分析 半导体XRD薄膜测试 XRD物相分析

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2022-10-07 11:00:55
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XRD物相分析单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。

XRD图谱怎么分析物质结构

随着计算机技术的发展,现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱,XRD物相分析哪里有,电脑软件(如Jade)通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片,很方便。

在XRD中,不仅可以定性得到物质的种类,相结构。而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数。

实际操作过程中,一般都能得到一个XRD的测试图谱,在你尽可能提供多的信息情况下,比如物相的制备方法,所包含的元素等,与标准卡片对比,找到跟你XRD图谱一样的标准图谱,再分析,当然得到的结果中可能有多种物相,那样你就得根据你图谱上的峰的位置一条一条地去找卡片库,匹配,然后就OK了



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物相定性分析中追求数据吻合程度时,

(1)d值比I/I1值更重要,更优先。因为d测试精度高,重现性好;而强度受纯度(影响分辨率)、结晶度(影响峰形)样品细微度(同Q值时吸收不同),辐射源波长(同d值,XRD物相分析价格,角因子不同)、样品制备方法(有无择优取向等)、测试方法(照相法或衍射仪法)等因素影响,不易固定。

(2)低角度衍射线比高角度线重要。对不同晶体而言低角度线不易重迭,而高角度线易重迭或被干扰。

(3)强线比弱线重要。尤其要重视强度较大的大d值线。

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多相物质定性分析

测XRD谱,得d值及相对强度后查索引,山西XRD物相分析,得卡片号码后查到卡片,在±1%误差范围内若解全部数据符合,则可判断该物质就是卡片所载物相,其晶体结构及有关性能也由卡片而知。这是单一物相定性分析。

多相混合物质的XRD谱是各物相XRD谱的迭加,某一相的谱线位置和强度不因其它物相的存在而改变,XRD物相分析联系方式,除非两相间物质吸收系数差异较大会互相影响到衍射强度。固熔体的XRD谱则以主晶相的XRD为主。

已知物相组分的多相混合物,或者先尝试假设各物相组分,它们的XRD谱解析相对要容易得多。分别查出这些单一物相的已知标准衍射数据,d值和强度,将它们综合到一起,就可以得到核实其有无。如钢铁中的δ相(马氏体或铁素体)γ相(奥氏体)和碳化物多相。



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