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- 西凡仪器(深圳)有限公司
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- 发布时间
- 2022-11-01 16:46:51
XRF-T6是西凡仪器结合ROHS检测标准及客户需求，推出的一款RoHS检测仪，该产品采用美国进口定制Si-PIN探测器，可准确检测Pb、Hg、Cd、Cr(VI)、CL、Br、PBB、PBDE等有害重金属物质，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
X射线荧光光谱仪具有重现性好，测量速度快，灵敏度高的特点。能分析B(5)~U(92)之间所有元素。X射线荧光光谱是一种常用的光谱技术，既可用于材料的组成成分分析，又可用于涂层和多层薄膜厚度的测量等。无标半定量方法可以对各种形状样品定性分析，并能给出半定量结果，结果准确度对某些样品可以接近定量水平，分析时间短。
能量色散X射线荧光光谱采用脉冲高度分析器将不同能量的脉冲分开并测量。能量色散X射线荧光光谱仪可分为具有高分辨率的光谱仪，分辨率较低的便携式光谱仪，和介于两者之间的台式光谱仪。高分辨率光谱仪通常采用液氮冷却的半导体探测器，如Si(Li)和高纯锗探测器等。低分辨便携式光谱仪常常采用正比计数器或闪烁计数器为探测器，它们不需要液氮冷却。采用电致冷的半导体探测器，高分辨率谱仪已不用液氮冷却。同步辐射光激发X射线荧光光谱、质子激发X射线荧光光谱、性同位素激发X射线荧光光谱、全反射X射线荧光光谱、微区X射线荧光光谱等较多采用的是能量色散方式。
非色散谱仪不是采用将不同能量的谱线分辨开来，国产rohs检测仪，而是通过选择激发、选择滤波和选择探测等方法使测量分析线而排除其他能量谱线的干扰，因此一般只适用于测量一些简单和组成基本固定的样品。
西凡仪器（深圳） 有限公司成立于2006年，是一家集研发、生产和销售x射线荧光光谱仪的高新技术企业，rohs卤素检测仪，主营产品包括ROHS检测仪、镀层测厚仪、硅油涂布量检测仪等众多无损检测仪器。
XRF-T6是西凡仪器结合ROHS检测标准及客户需求，推出的一款RoHS检测仪，rohs检测仪，该产品采用美国进口定制Si-PIN探测器，可准确检测Pb、Hg、Cd、Cr(VI)、CL、Br、PBB、PBDE等有害重金属物质，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
仪器特点:
1、 集成工业计算机，无需另接电脑
集成工业计算机，无需另接电脑，减少干扰和数据传输故障；
2、 标配24寸大显示器
仪器标配24寸大显示器，无线鼠标和键盘。
3、 自动校准，确保仪器测试数据的准确性
仪器自动校准，确保仪器测试数据的准确性；
4、 自带WIFI系统
自带WIFI系统，方便接入网络打印机和远程数据调试，缩短仪器维护时间；
5、 高清摄像定位系统
800万像素高清摄像定位系统，准确定位测试点；
6、 测试结束，音乐提醒
样品测试结束时，有音乐提醒，提示跟换样品，提高工作效率；
7、 开放式工作曲线
开放式工作曲线标定功能，客户可自主增加测试项目；
8、 多种报告输出形式
可自定义多种报告输出形式，如PDF、Excel等；报告模板自定义设计；
9、 超大数据库，rohs检测仪品牌，自动保存结果
超大数据库，确保测试结果的准确性；
10、 限定标准，自由设定
不同客户可设置不同的限定标准，告别繁琐的更换限定值的烦恼；
11、 集成数据统计功能
集成数据统计功能，方便品质部门筛选统计供应商、物料名称、部件以及通过不同时间段测试状况；
12、 测试数据自动备份和还原
测试数据一键备份﹨还原功能，避免因误操作或其它原因造成的损失，保障数据及系统文件安全；
13、 支持大样品测试
支持大样品测试功能，并有流程指引设计。
XRF-T6是西凡仪器结合ROHS检测标准及客户需求，推出的一款RoHS检测仪，该产品采用美国进口定制Si-PIN探测器，可准确检测Pb、Hg、Cd、Cr(VI)、CL、Br、PBB、PBDE等有害重金属物质，检测速度快，测试稳定性好、准确性高。
X射线荧光光谱仪的物理原理：当材料暴露在短波长X咣检查，或伽马射线，其组成原子可能发生电离，如果原子是暴露于辐射与能源大于它的电离势，足以驱逐内层轨道的电子，然而这使原子的电子结构不稳定，在外轨道的电子会“回补”进入低轨道，以填补遗留下来的洞。在“回补”的过程会释出多余的能源，光子能量是相等两个轨道的能量差异的。因此，物质出的辐射，这是原子的能量特性。
X射线荧光光谱仪的使用型态：XRF用X咣或其他激发源照射待分析样品，样品中的元素之内层电子被击出后，造成核外电子的跃迁，在被激发的电子返回基态的时候，会出特征X咣；不同的元素会出各自的特征x咣，具有不同的能量或波长特性。检测器(Detector)接受这些X咣，仪器软件系统将其转为对应的信号。这一现象广泛用于元素分析和化学分析，特别是在研究金属，玻璃，陶瓷和建筑材料，以及在地球化学研究、法医学、电子产品进料品管（EURoHS）和考古学等领域，在某种程度上与原子吸收光谱仪互补，减少工厂附设的品管实验室之分析人力投入。