AlGaN材料XRD检测机构 半导体单晶XRD靠谱

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三结构分析的过程 X射线晶体结构分析的过程，从单晶培养开始，到晶体的挑选与安置，继而使用射仪测量衍射数据，再利用各种结构分析与数据拟合方法，进行晶体结构解析与结构精修，后得到各种晶体结构的几何数据与结构图形等结果。

利用目前的仪器设备和计算机，一个常规小分子化合物的射线晶体结构分析全过程可以在几十分钟到几个小时内完成。下图概括了晶体结构分析的过程，左边的方框列出各个主要步骤，右边则列出每个步骤可以获得的主要结果或数据。

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Omega扫描方法的原理如图1所示。在测量过程中，晶体以恒定速度围绕转盘中心的旋转轴，即系统的参考轴旋转，X射线管和带有面罩的数据探测器处于固定位置不动。

X射线光束倾斜着照射至样品，经过晶体晶格反射后探测器进行数据采集，在垂直于旋转轴（ω圆）的平面内测量反射的角位置。

选择相应的主光束入射角，并且检测器前面的面罩进行筛选定位，从而获得在足够数量的晶格平面上的反射，进而可以评估晶格所有数据。整过过程必须至少测量两个晶格平面上的反射。

对于对称轴接近旋转轴的晶体取向，记录对称等值反射的响应数（图2），整个测量仅需几秒钟。

利用反射的角度位置，计算晶体的取向，例如，通过与晶体坐标系有关的极坐标来表示。此外，omega圆上任何晶格方向投影的方位角都可以通过测量得到。

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XRD测试项目：常规广角: 5--90°，小角：0.5--10°；常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角测试速率：1°/min， 0.5°/min；有其他测试速率请联系当地经理；该测试只得到样品的XRD原始谱图，不包括对数据的处理和分析，需要数据分析请到数据分析栏目联系相关老师；更多测试要求请咨询客户经理。XRD样品要求：

粉末样品请准备至少20mg，0.1g以上，AlGaN材料XRD检测机构，量少可以用微量室，但是效果相对不是很好。需要粒度均匀（粒度在45um左右或过200目筛子），手摸无颗粒感，面粉质感；块状样品要求长宽1-2cm（一般不小于1cm），厚度不超出15mm，需要注明测试面，测试面需要平整光洁。

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