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- 2022-11-15 10:20:58
大功率XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,大功率XRD检测费用多少,以及行业应用技术开发。
而对于部分粉末和固体样品,由于存在比较大的周期(比如某晶面d值大于17.6埃,对应2theta小于5度)的微观结构,这时就需要选择小角X射线衍射的模式,通常起始角度可以从零点几度开始,不同仪器配置这个起始角会有所区别。很多同学在准备做X射线衍射测试的时候,拿着样品不知道该怎么选择仪器,以及选择了仪器不知道选择什么模式对样品进行测试,今天和大家聊聊XRD测试仪器选择相关的一些问题。
粉末和块状样品
对常规的粉末样品和块状样品一般做常规的XRD测试即可,需要注意的是,在测试的时候需要根据自己的样品情况选择合适的2theta角度范围,通常根据样品种类,测试范围无机物10-70,金属30-90,有机物5-65。
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XRD、IR、SEM、EDS及紫外可见吸收的测试原理
SEM:材料的表面形貌,形貌特征。配合EDX可以获得材料的元素组成信息
TEM:材料的表面形貌,结晶性。配合EDX可以获得材料的元素组成
FTIR:主要用于测试高分子有机材料,确定不同高分子键的存在,确定材料的结构。如单键,双键等等
Raman:通过测定转动能及和振动能及,用来测定材料的结构。
CV:CV曲线可以测试得到很多信息,比如所需电沉积电压,电流,以及半导体行业可以得到直流偏压
EIS:EIS就是电化学交流阻抗谱测试可以得到电极电位,阻抗信息,从而模拟出系统内在串联电阻,并联电阻和电容相关信息
BET:主要是测试材料比表面积的,可以得到材料的比表面积信息。
XRD:主要是测试材料的物性,晶型的。的XRD还可以测试材料不同晶型的组分。
质谱:主要用于鉴定材料的化学成分,包括液相质谱,广东大功率XRD检测,气象质谱
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Omega扫描方法的原理如图1所示。在测量过程中,晶体以恒定速度围绕转盘中心的旋转轴,即系统的参考轴旋转,X射线管和带有面罩的数据探测器处于固定位置不动。
X射线光束倾斜着照射至样品,经过晶体晶格反射后探测器进行数据采集,在垂直于旋转轴(ω圆)的平面内测量反射的角位置。
选择相应的主光束入射角,并且检测器前面的面罩进行筛选定位,从而获得在足够数量的晶格平面上的反射,进而可以评估晶格所有数据。整过过程必须至少测量两个晶格平面上的反射。
对于对称轴接近旋转轴的晶体取向,大功率XRD检测报告,记录对称等值反射的响应数(图2),整个测量仅需几秒钟。
利用反射的角度位置,计算晶体的取向,大功率XRD检测多少钱,例如,通过与晶体坐标系有关的极坐标来表示。此外,omega圆上任何晶格方向投影的方位角都可以通过测量得到。
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