XRD摇摆曲线检测机构 半导体XRD薄膜测试

XRD摇摆曲线检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，XRD摇摆曲线检测价格，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

实例讲解

接下来，铄思百检测以(三氧化二铝)的衍射数据为例，介绍如何利用mdi-jade软件处理简单的衍射数据。操作步骤如下：平滑数据、减去基线、相位检测索→数据推导、图像渲染。

首先打开数据文件(上面如图)，界面如上图所示。通过“file-read”或菜单栏中的文件夹图标打开

如上图所示，平滑数据。当鼠标选择上方区域时，黄色选区的曲线将显示在下方区域。在菜单栏的图标上单击鼠标右键，注意单击鼠标右键，打开对话框，移动滑轮，可以看到平滑效果。图片中的粉红色曲线是平滑的，而黑色曲线不是平滑的。将滑轮移动到右侧位置，XRD摇摆曲线检测报告，然后单击图片中的“关闭”，单击左侧按钮上的“平滑”按钮，将应用平滑效果。

找到基线。点击BG按钮查看上述现象。可以使用鼠标微调红点以调整基线。

扣除基线。确定基线后，再次单击bg按钮，陕西XRD摇摆曲线检测，基线将自动扣除。出现如上图所示的效果。

相位恢复。右击S﹨﹨/M键，出现上图中的相位搜索匹配界面。选择适当的数据库，单击“确定”，软件将自动检索

勾选索结果。软件将通过比较给出匹配的结果。因为小编给出的例子是刚玉，所以这里的小编直接检查第三个检查索结果。对应标准pdf卡的峰值如上图所示。到目前为止，检查索成功

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XRD图谱怎么分析物质结构

随着计算机技术的发展，现在都是通过导入研究者测试得到的XRD图谱，电脑软件（如Jade）通过匹配度寻找与之比配的pdf卡片，很方便。

在XRD中，不仅可以定性得到物质的种类，相结构。而且可以通过谢乐公式得到晶粒尺寸以及通过精修手段得到晶胞常数。

实际操作过程中，一般都能得到一个XRD的测试图谱，在你尽可能提供多的信息情况下，比如物相的制备方法，所包含的元素等，与标准卡片对比，找到跟你XRD图谱一样的标准图谱，再分析，当然得到的结果中可能有多种物相，那样你就得根据你图谱上的峰的位置一条一条地去找卡片库，匹配，然后就OK了

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便携式XRD分析仪

　　XRD产品实践

　　映SHINE便携式X射线衍射仪是苏州浪声科学仪器有限公司结合XRD、XRF和计算机软件等多项技术，自主研发的一款便携式X射线衍射设备。仪器通过对样品进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构或形态等信息（材料主要成分、次要成份或微量成份的全晶相ID信息），具有制样简单、无污染、快捷、测量精度高、能得到有关晶体完整性的大量信息等优点，是研究物质的物相和晶体结构的主要方法。

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