- 发布
- 广东省科学院半导体研究所
- 电话
- 020-61086420
- 手机
- 13560436009
- 发布时间
- 2022-11-17 10:16:29
大功率XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，大功率XRD检测测试，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
1923年，康普顿报道了当X射线用几乎与样品表面平行的小角度入射到理想光滑平整的样品表面上时，能够出现镜面反射的特征。入射X射线在样品表面发生全反射的前提是入射角小于或等于临界角αi（入射角）≤αc（αc临界角）。当发生全反射时，由于X射线被全反射，重庆大功率XRD检测，因此探测到的信息几乎全部是样品表面薄层的信息。在对衬底上的薄膜进行分析时，全反射法可以避免来自衬底的干扰信息。
掠入射X射线衍射(GIXRD)是一种让X射线略过样品表面的技术，这种技术能够更真实地表征出薄膜（特别是共辄聚合物薄膜)的微结构。测试光是平行光，相对于常规的衍射光来说能量较小，大功率XRD检测实验室，因此掠入射测试XRD的谱图峰强相对较弱。但是平行光可以更好的关注薄膜表面的信息，也不容易测到基底，因此掠入射XRD专门用于测试薄膜样品。薄膜尺寸没有特别要求，但是需要测试面平整光洁，不要有遮挡物，这样测试结果才真实可信。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~大功率XRD检测
大功率XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
简便性：仪器一键式操作，无需校正，自动检测，无需额外注意高压系统和水循环冷却系统（仪器无额外高压和水循环冷却系统）。
制样简单：单次分析仅需要15毫克左右的样品即可获得的检测结果，样品制备无需制片、压片、刮平等，3分钟即可完成样品制样（粉碎、滤筛、装样）。
数据传输：仪器通过USB， 蓝牙，WIFI与笔记本电脑实现高速连接，实时对映SHINE仪器进行控制及物相分析。
良好的环境适应性：专为地质考察而研制，仪器可防雾、防尘、防震动，能适应恶劣的使用环境。
安全性：的多重防护辐射处理，测量时仪器无任何辐射泄漏。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~大功率XRD检测
大功率XRD检测单晶XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
含2716个相的常用相程序;
含3549个相的矿物程序;
含6000个相的金属和合金程序;
含31799个相的无机相程序
含11378个相的有机相程序.每张片尾记录一个物相。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~大功率XRD检测