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- 2022-12-09 15:27:10
XRD摇摆曲线检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
在做单晶X射线衍射（单晶XRD）测试时，此法用射线计数仪直接记录射线的强度。单晶衍射仪有线性衍射仪、四圆衍射仪和韦森堡衍射仪等，XRD摇摆曲线检测多少钱，其中以四圆衍射仪，XRD摇摆曲线检测服务，为通用。所谓四圆是指晶体和计数器藉以调节方位的四个圆，分别称为φ圆、圆、w圆和2θ圆。φ圆是安装晶体的测角头转动的圆；圆是支撑测角头的垂直圆，测角头可在此圆上运动；w圆是使圆绕垂直轴转动的圆，2θ圆与w圆共轴，计数器绕着这个轴转动。这四个圆中，w圆、φ圆和圆用于调节晶体的取向，XRD摇摆曲线检测价格，使某一的晶面满足衍射条件，同时调节2θ圆，使衍射线进入计数器中。通常，四圆衍射仪配用电子计算机自动控制和记录，可以测定晶格参数，并将衍射点的强度数据依次自动收集，简化了实验过程，而且大大提高了数据的度。因此，它已成为当前晶体结构分析中强有力的工具。
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13.晶粒尺寸是粗糙的计算，是否需要把所有的峰拿来计算晶粒，还是只要一个峰就可以？比如在CeO2上负载1%的Pd这样的Pd的衍射峰很弱，用来计算晶粒尺寸是否可以？误差会很大吗？
答：晶粒尺寸计算用全谱拟合，单个峰计算误差很大。
负载量1%本身就低于XRD检测下限，而且峰很弱，计算晶粒尺寸误差会很大
14.不同靶材测试的，峰是有偏移的。那么在对标的时候是否有设置？或者校正？
答：不同靶材的测试结果放在一起比较时，可以通过Highscore、JADE等软件转换成同一个靶材，再进行比较、分析。
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计数管法
用X射线测定应力，其精度受到许多因素的影响，如被测试件材料的结构、晶粒的粗细程度、衍射面的选择、X射线的波长、采用的测量方法、被测试件表面的平滑度和处理情况等。
70年始使用的多缝平行光阑的平行光束X射线应力测定仪，具有限制X射线入射和衍射光束的水平发散度的效能，提高了测量的精度。X射线测定应力的精度，已能达到±（1～2）千克力/毫米2。
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