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- 苏州英飞思科学仪器有限公司
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- 发布时间
- 2022-12-13 14:27:15
英飞思XRF镀层测厚仪优势
gt;微光斑X 射线聚焦光学器件
通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域,实现高精度测量。
gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统
高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。
gt;高分辨率样品观测系统
的点位测量功能有助于提高测量精度。
gt;全系列标配薄膜FP无标样分析法软件,EDX-8000B型XRF镀层测厚仪,可同时对多层镀层及全金镀层厚度和成分进行测量
配合用户友好的软件界面,可以轻松地进行日常测量。
XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。