对比试样/块校准 纳克 对比试样/块校准机构

对比试样校准测量方法

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，对比试样/块校准报价，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

对比试样校准测量注意事项：

⒈在进行测试的时候要注意标准片集体的金属磁性和表面粗糙度应当与试件相似。

⒉测量时侧头与试样表面保持垂直。

⒊测量时要注意基体金属的临界厚度，对比试样/块校准，如果大于这个厚度测量就不受基体金属厚度的影响。

⒋测量时要注意试件的曲率对测量的影响。因此在弯曲的试件表面上测量时不可靠的。

⒌测量前要注意周围其他的电器设备会不会产生磁场，如果会将会干扰磁性测厚法。

⒍测量时要注意不要在内转角处和靠近试件边缘处测量，因为一般的测厚仪试件表面形状的忽然变化很敏感。

⒎在测量时要保持压力的恒定，对比试样/块校准机构，否则会影响测量的读数。

⒏在进行测试的时候要注意仪器测头和被测试件的要直接接触，因此超声波测厚仪在进行对侧头清除附着物质。

对比试样校准如何防止探头打滑？

由于压力容器的所有被检测部位都是弯曲的，对比试样/块校准公司，探头与容器的接触面是平面，检测过程中技术人员需要手持探头紧贴被检测部位，而大量被检测部位就在容器的正下方或侧面。探头与被检测部位接触后，仪器需要20秒左右的反应时间。在此期间，技术人员应稳定地握住探头，不能有任何晃动，否则检测的数据会发生漂移，需要重新检测。工作初期，由于上述原因，需要大量的测点/要重新测量，现场技术人员经过认真分析，找到了对策，解决了这个难题。

1.在不同规格的探头与容器的接触面上安装防滑垫，有效防止了打滑的问题。

2.用紧绳器固定探头。做一个类似长途货车的紧绳器来系货物，但是紧绳器的绑带要窄很多，这样才能和探头上的手柄相配。对于一些特殊的检查部位(尤其是被检查集装箱的正下方)，将绳索收紧器穿过探头，然后将探头移动到被检查部位，找出检查位置并拧紧，这样就解决了这些特殊部位打滑的问题。

对比试样/块校准-纳克-对比试样/块校准机构由钢研纳克检测技术股份有限公司提供。钢研纳克检测技术股份有限公司是从事“无损检测检验,无损校准评价,无损检测系统,无损检测仪器”的企业，公司秉承“诚信经营，用心服务”的理念，为您提供更好的产品和服务。欢迎来电咨询！联系人：刘经理。