半导体XRD研究所 重庆XRD薄膜检测

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薄膜，根据不同的情况可以分成不同类别。根据性质或应用方面，可以把光学领域的薄膜称为金属膜、聚合物膜、消反射膜、生物膜、防护膜、超导薄膜、金刚石膜等等；把微电子学领域的薄膜称为薄膜电阻、外延膜、超晶格等。也有从制备方法、从其结构等进行划分。薄膜的性质和它的成分、晶粒度、结晶状态、晶格失配等诸多因素密切相关。如何研究理清这些因素对于制作高质量薄膜和其他方面就显得尤为重要。

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10.请问步长如何调整呢？步长与谱图的哪些地方相关呢？

步长或者其他设置条件在测试之前可以在操作软件上进行调整。步长会影响谱图的分辨率，峰强以及信噪比，但是默认的步长0.02°已经是比较小的步长了，可以满足一般需要，步长越大，分辨率越低，信噪比越差，峰强越弱。

11.用手感觉样品不会污染样品吧？应该是只要研磨感觉没啥细颗粒就可以了吧？

肯定不是直接肉手去触摸样品，样品对身体有害的话岂不是我的过错，需要带上橡胶手套保护自己，或者用筛子过一下也是可以的。研磨到没有颗粒感，像面粉的质感就差不多了，重庆XRD薄膜检测，也不能研磨的太细。

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x射线应力测定法是应力分析方法的一种。它利用X射线穿透金属晶格时发生衍射的原理，测量金属材料或构件的表面层由于晶格间距变化所产生的应变，从而算出应力。可以无损地直接测定试件表层的应力或残余应力。

出于适应工业现场实测和各种结构材料的不同性能以及大型构件的应力测定的需要，当前的研究工作主要是实现测试工作标准化，提高测试精度和测试效率。以及采用双X射线管，双计数管，和配用电子计算机进行数据处理和程序控制的X射线应力测定系统。

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