沈阳微区膜厚仪 微区膜厚仪 英飞思科学

膜厚仪EDX-8000B型XRF镀层测厚仪

Simply The Best

gt;微光斑X 射线聚焦光学器件

通过将高亮度一次 X 射线照射到0.02mm的区域，微区膜厚仪价格，实现高精度测量。

gt;硅漂移探测器 (SDD) 作为检测系统

高计数率硅漂移检测器可实现高精度测量。

gt;高分辨率样品观测系统

的点位测量功能有助于提高测量精度。

苏州英飞思科学仪器有限公司测厚仪可以用来在线测 量轧制后的板带材厚度，微区膜厚仪供应，并以电讯号的形式输出。该电讯号输给显示器和自动厚度控制系统，以实现对板带厚度的自动厚度控制（AGC）。 目前常见的测厚仪有γ射线、β射 线、x射线及同位素射线等四种，微区膜厚仪加工，其安放位置均在板带轧机的出口或入 口侧。设计、安装测厚仪时要在可能的条件下尽量靠近工作辊，沈阳微区膜厚仪，目的是降低板厚的滞后调整时间。

XRF金属镀层测厚仪产品特点

gt;测试快速，无需样品制备

gt;可通过内置高清CCD摄像机来观察及选择定位微小面积镀层厚度的测量，避免直接接触，污染或破坏被测物

gt;备有多种以上的镀层厚度测量和成分分析时所需的标准样品

gt;可覆盖元素周期表Mg镁到U铀

gt;SDD检测器，具有高计数范围和出色的能量分辨率

gt;可切换准直器和滤光片

XRF金属镀层测厚仪应用场景

gt;EDX8000B镀层测厚仪可以用于PCB镀层厚度测量，PCB镀层分析，金属电镀镀层分析；

gt;测量的对象包括镀层、敷层、贴层、涂层、化学生成膜等

gt;可测量离子镀、电镀、蒸镀、等各种金属镀层的厚度

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