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XRD物相分析检测半导体XRD检测——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。


衍射峰左右不对称是何原因?

衍射仪获得的衍射峰形(地说是衍射线的剖面,diffraction lineprofile)是不对称的, 尤其是在低角度区(2θ lt; 30°)表现更为明显。峰型不对称是由多方面的因素造成的,主要是衍射仪光路的几何因素、仪器的调整状况以 及样品的吸收性质等。

为什么有的 XRD data 中,有(200)(400)面,而没有基本的(100)面数据?或者有 (220)而没有(110)?

粉晶衍射不一定能出现所有的面网,很多物质的粉晶衍射都不一定出现(100)(110),这 与结构有关。晶体衍射有个叫"消光"的现象,晶体的"消光规律"决定于它的结构的对称性,不同的空间群 其"消光规律"不同。如果应该出现的衍射而没有出现,那就是样品的择优取向引起的。再者(100)面的角度比较低,有时是没有扫到或淹没在低角度的背景中了。




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高精度测角仪是怎么实现θ/2θ倍角转动的?

这种装置能够保证严格的倍角同步吗?θ/2θ是两个同轴的园,θ是带动样品转动的园,而 2θ是探测器转动的园,这样设计的目 的是为了保证样品在转动中的衍射焦点始终在探测器转动的大园上。现代的衍射仪用2 个步 进电机分别独立控制θ和 2θ园的转动,控制电路能够保证两个园按 1:2 转速比转动,保证 两个园的转动严格倍角同步。磁性材料比如 NdFeB 或者 NdFeN 的粉末,云南XRD物相分析检测,是不是会因为磁性的存在会产生择优取向?磁性材料肯定是具择优取向的,否则就没有磁性了,制样时应当磨成粉末,可以抑制这种取 向趋势。"择优取向"会使很多本来有的衍射峰出不来。




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我现在做介孔材料。介孔(孔径 2-50nm)在材料中成有序排列,象晶格一样的排列在材料中,孔壁、材料为非晶相。为什么 XRD 能粗测孔与孔的间距?我了解到的是,孔成有序排列,XRD物相分析检测价格,所以在小角度会有衍射峰,(001)面的峰值和孔径有关。但我不知道为什么?

跟长周期有关:大的孔需要大的周期,或者说是"孔面"间距,类似于"晶面间距"。"孔"意味晶体中该区域没有原子填充,没有填充原子就无衍射峰。而孔洞的边界是原子紧密排列的,原子密度相对较高,对应产生较强的衍射,XRD物相分析检测实验室,强度较大。

大孔孔径大,空间重复周期大(即长周期),对应的晶面距大,产生的衍射在小角区。所说的(001)有强线对应的材料的晶体 C 轴较长,如果第是(100)则 A 轴较长。




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