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相控阵超声检测阵元宽度

阵元宽度是对指向性影响的一个参数。增大可以增大在控制方向上的声压，获得更好的性噪比。

适当增大值，也会使旁瓣变小，但是变小的范围有限。

良好的聚焦声束指向性不是由某一个参数来决定的，一般是受几个参数同时影响。

所以，应该在满足各个参数的基本要求下，在给出的设计指标的约束下，选取优的参数。

相控阵超声检测优点

（1）相控阵的S扫：即同时拥有许多角度的超声波，相当于多种角度的探头同时工作，相控阵探伤报价，所以相控阵无需锯齿扫查，只要沿着焊缝移动探头即可，检测效率更高，相控阵探伤方案，适合自动化检测。

（2）相控阵的动态深度聚焦：而常规超声波一般没有（除了聚焦探头外），所以相控阵检测的灵敏度和分辨率都比常规超声检测高。

（3）相控阵检测可以同时进行B扫、D扫、S扫和C扫描，通过建模，缺陷显示非常直观。

（4）超声相控阵可以检测复杂形状的零件，相控阵探伤公司，比如可以检测叶片的叶根、螺栓、变径轴。

不同类型的相控阵超声检测

扇形扫描即S扫描，在设定深度上，相控阵探头按聚焦法则分别计算每个偏转角度得聚焦延迟，相控阵探伤，激发时以从左至右的顺序分别激发，形成一定范围内的扇形扫查。扫查时须要设置扇扫范围、角度间隔和聚焦深度。右图给出了扇形扫查的检测原理和扫查成像图。

线性扫描又称电子扫查。扫描时先将探头阵元分为数量相同的若干小组，由延迟器传输的触发脉冲分别依次激发各小组阵元，检测声场在空间中以恒定角度对探头长度方向进行扫查检测。

线性扫查检测前须要设定好阵元数、聚焦深度。右图给出了线性扫描的检测原理和扫描成像图。

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