对比试样校准 对比试样校准 北京纳克无损公司

对比试样校准根据测量原理分类

1.磁性测厚法:适用导磁材料上的非导磁层厚度测量.导磁材料一般为:钢﹨铁﹨银﹨镍.此种方法测量精度高

2.涡流测厚法:适用导电金属上的非导电层厚度测量，对比试样校准哪家好，此种方法较磁性测厚法精度低。

3.超声波测厚法:目前国内还没有用此种方法测量涂镀层厚度的，国外个别厂家有这样的仪器，适用多层涂镀层厚度的测量或则是以上两种方法都无法测量的场合.但一般价格昂贵﹨测量精度也不高。

4.电解测厚法:此方法有别于以上三种，不属于无损检测，对比试样校准，需要破坏涂镀层.一般精度也不高.测量起来较其他几种麻烦。

5.射线测厚法:此种仪器价格非常昂贵(一般在10万RMB以上)，对比试样校准报价，适用于一些特殊场合。国内目前使用较为普遍的是1﹨2两种方法。

对比试样校准原理

1. 复型测量法 一种间接的测量方法，通过将可塑性材料充满在人工缺陷内，经过凝固成型后取出，直观、形象、逼 真地再现人工缺陷的立体形貌，取点、线、断面采用相应精度的量具对人工缺陷长度、宽度、深度测量，获 得人工缺陷的尺寸数据。

2. 显微测量法 直接通过读数显微镜对人工缺陷放大后，以光学成像或聚焦方法瞄准边缘轮廓或表面，通过X、Y、Z轴在缺陷上移动的距离直接测量人工槽的长度、宽度、深度及通孔的直径。

对比试样校准的测试条件

一. 基体表面曲率 在一个平直的对比试样上校准好一个初始值，然后在测量覆层厚度后减去这个初始值。 二.基体金属较小厚度 基体金属必须有一个给定的较小厚度，使探头的电磁场能完全包容在基体金属中，较小厚度与测量器的性能及金属基体的性质有关，在这个厚度之上刚好可以进行测量而不用对测量值修正。对于基体厚度不够而产生的影响，可以采取在基材下面紧贴一块相同材料的措施予以消除。如难以决断，或无法加基材则可以通过与已知覆层厚度的试样进行对比来确定与额定值的差值。并且在测量中考虑这点而对测量值作相应的修正。而那些可以标定的仪器通过调整旋钮或按键，便可以得到准确的直读厚度值。

二. 如果探头与被测体边界、孔眼、空腔、其他截面变化处的间距小于规定的边界间距，由于磁通或涡流载体截面不够将导致测量误差。测量该点的覆层厚度，需要在相同条件的无覆层表面进行预先校准后测量。

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