对比试样/块校准 北京纳克无损 对比试样/块校准

对比试样校准测量方法

覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中有五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。 X射线和β射线法是无接触无损测量，对比试样/块校准机构，但装置复杂昂贵，对比试样/块校准公司，测量范围较小。因有射线源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

对比试样校准探头选择

超声波测厚仪探头根据性能和直径分类主要有7MHz/φ6mm探头、5MHz/φ10mm探头、2.5MHz/φ14mm探头、5MHz/φ8mm使用某一探头前应先在仪器上选择对应的探头按“ENTER”或“确认”键保存，下次开机时，探头为本次选择的探头。为保证仪器精度和稳定性，建议不要互换探头。仪器使用后，应擦去探头及仪器上的耦合剂和污垢。

对比试样校准脉冲涡流应用前景

脉冲涡流应用此项技术在不停机不拆保温层情况下进行检测，对比试样/块校准，能为业主节约了宝贵的生产时间。应用传统方法检测需要拆除保温，这将花费大量的人力物力，更要耗费大量时间，对比试样/块校准报价，主要的是检测需要在停机或者停厂条件下进行，而停止生产进行检测是业主不愿意看到的情况，因为这样会给业主带来大量的经济损失。因此，不停机不拆保温层情况下利用脉冲涡流对压力容器、压力管道进行测厚的检测检测方法有着广阔的应用前景。

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