HED W5300D破坏装置 井泽贸易 破坏装置

HED-W5100D全自动WaferESD测试仪

HED-W5100D全自动Wafer ESD测试仪

HED-W5100D全自动Wafer ESD测试仪

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施加ESD后，也可以通过V/I测量进行破坏判定。此外，HED-W5300D破坏装置，还可与ESD测试等TLP测试装置同时使用。

对于ESD测试中出现问题的设备，有效地获得保护电路的动作参数。

是与日本、海外的规格对应的可靠性高的装置。（JEITA/ESDA/JEDEC规格对应）

HED-W5000M-SP0LowCostWaferESD测试仪

HED-W5000M-SP0 Low Cost Wafer ESD测试仪

HED-W5000M-SP0 Low Cost Wafer ESD测试仪

以低成本提供。由于控制软件的开放，静电破坏装置，可以构筑广泛的应用程序。

以低成本提供。由于控制软件的开放，破坏装置，可以构筑广泛的应用程序。

以低成本提供。由于控制软件的开放，可以构筑广泛的应用程序。

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在集成电路中安装的保护电路的动作参数的收集和分析中，TLP测试装置发挥了很大的作用，但是在半导体的微细化进程中，为了提高ESD抗药性，需要进一步的保护电路的开发速度。

HED-W5000M-WFC测试仪可以观测实际加入设备的ESD波形，因此在保护电路参数的收集、分析、开发速度的缩短上发挥了很大的作用。

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