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视频作者:昆山智鹏精密测量仪器有限公司
5、阵列测量阵列测量可以对同一工件上阵列分布的部分进行自动测量,只需对阵开分布的部分进行编程并对阵开分布规则设置后即可自动进行测量。6、图纸比开CAD设计图纸,与实际影像不吻合,使用图纸比对中的摆正功能可以将打开的图纸与影像重合。使用摆正后的图形,可以进行测量或做简单比对。7、SPC统计内置SPC(统计过程控制)功能,可以在测量后读取的测量数据,生成X-R、Xm-R等控制图,光学影像量测仪批发,并计算大值,值、平均值、标准差、偏移值、Ca、Cp的、Cpk等统计系数。
1)可测量平面上的任何几何尺寸,包括直径、半径、长度、角度、宽度、高度、深度、点到点的距离、点到线的距离、圆心距等等。2)具有零件拍照功能,光学影像量测仪规格,可以更直观的进行比对3)软件可随时分析测量数据4)测量数据可直接导入Word,Excel中进行分析5)具有自动寻边的功能,光学影像量测仪制作,使测量更加快速、6)快捷键功能,河南光学影像量测仪,可使操作者快速、便捷的进行测量7)可保存为DXF格式,与AutoCAD软件无缝传输数据8)可直接在AutoCAD中编辑、使用、使测量结果处理更方便,快捷。
基本测量原则在实际测量中,对于同一被测量往往可以采用多种测量方法。为减小测量不确定度,应尽可能遵守以下基本测量原则:(1)阿贝原则:要求在测量过程中被测长度与基准长度应安置在同一直线上的原则。若被测长度与基准长度并排放置,在测量比较过程中由于制造误差的 存在,移动方向的偏移,两长度之间出现夹角而产生较大的误差。误差的大小除与两长度之间夹角大小有关外,还与其之间距离大小有关,距离越大,误差也越大。(2)基准统一原则:测量基准要与加工基准和使用基准统一。即工序测量应以工艺基准作为测量基准,终检测量应以设计基准作为测量基准。
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