DDR3 8位 16M复位测试 CLK测试 DQS测试

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发布时间
2023-12-16 09:41:10
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Power on: 上电Reset Procedure: 复位过程Initialization: 初始化ZQCL: 上电初始化后,用完成校准ZQ电阻。ZQCL会触发DRAM内部的校准引擎,      一旦校准完成,校准后的值会传递到DRAM的IO管脚上,并反映为输出驱动和ODT阻值。ZQCS: 周期性的校准,能够跟随电压和温度的变化而变化。校准需要更短的时间窗口,      一次校准,可以有效的纠正小0.5%的RON和RTT电阻。Al:Additive latency.是用来在总线上保持命令或者数据的有效时间。    在ddr3允许直接操作读和写的操作过程中,AL是总线上的数据出现到进入器件内部的时间。    下图为DDR3标准所支持的时间操作。Write Leveling:为了得到更好的信号完整性,DDR3存储模块采取了FLY_BY的拓扑结构,     来处理命令、地址、控制信号和时钟。FLY_BY的拓扑结构可以有效的减少stub的数量和他们的长度,     但是却会导致时钟和strobe信号在每个芯片上的flight time skew,这使得控制器(FPGA或者CPU)     很难以保持Tdqss ,tdss和tdsh这些时序。这样,ddr3支持write leveling这样一个特性,     来允许控制器来补偿倾斜(flight time skew)。存储器控制器能够用该特性和从DDR3反馈的数据调成DQS和CK之间的关系。     在这种调整中,存储器控制器可以对DQS信号可调整的延时,来与时钟信号的上升边沿对齐。     控制器不停对DQS进行延时,直到发现从0到1之间的跳变出现,然后DQS的延时通过这样的方式被建立起来了,由此可以保证tDQSS。MRS: MODE Register Set, 模式寄存器设置。为了应用的灵活性,不同的功能、特征和模式等在四个在DDR3芯片上的Mode Register中,     通过编程来实现。模式寄存器MR没有缺省值,因此模式寄存器MR必须在上电或者复位后被完全初始化,     这样才能使得DDR可以正常工作。正常工作模式下,MR也可以被重新写入。模式寄存器的设置命令周期,        tMRD两次操作的小时间,其具体时序图,如下图所示。模式寄存器,分为MR0、MR1、MR2和MR4。    MR0用来存储DDR3的不同操作模式的数据:包括突发长度、读取突发种类、CAS长度、测试模式、DLL复位等。    MR1用来存储是否使能DLL、输出驱动长度、Rtt_Nom、额外长度、写电平使能等。MR2用来存储控制更新的特性,    Rtt_WR阻抗,和CAS写长度。MR3用来控制MPR。

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