无损探伤，射线探伤-方检检测

射线无损探伤检测是一种利用射线对材料或工件进行无损检测的方法。射线探伤可以检测材料或工件内部的结构和缺陷，并且可以确定缺陷的大小、位置和性质。

射线探伤通常使用X射线或γ射线进行检测。当射线穿过材料时，它们会受到吸收、散射和透射。如果材料内部存在缺陷或结构不连续，会导致射线的吸收或散射不同，从而在底片上形成不同的影像。通过观察底片上的影像，可以判断材料或工件内部的缺陷和结构。

除了X射线和γ射线，还有其他的检测方法，如超声波检测、磁粉检测、涡流检测等。这些方法都可以对材料或工件进行无损检测，但各有其适用范围和局限性。

总之，射线无损探伤检测是一种有效的无损检测方法，可以广泛应用于各种材料和工件的检测。