触摸屏划线测试-寿命测试-纳米划痕测试

触摸屏划线寿命测试是一种用于评估触摸屏在连续划线操作下的耐久性和稳定性的测试方法。该测试使用特定的测试设备（如按键耐久测试仪＆荷重元测试仪）在触摸屏表面进行大量的划线操作，以模拟用户在实际使用中的频繁触摸和滑动操作。

 测试流程：试验规格及方法由送检单位提供

● 试验方法参照：WI-053-018;
● 将触摸屏点亮固定在设备上，使用直径8mm的触摸头，施加2.5N压力，以120mm/s的速度在屏幕上划线，划线位置为屏幕的两条对角线，每条对角线长150mm，每条对角线测试100000次，每10000次检查。

判定依据：
●测试结束后全面检测样品外观、机械结构、功能及电气性能是否正常。