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- 优尔鸿信检测技术(深圳)有限公司
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- 2026-01-14 09:30:00
一、测试原理
HAST(Highly Accelerated Stress Test,高加速应力测试)的原理是通过施加高温、高湿和高压的综合环境应力,加速产品内部的化学反应和物理变化过程,从而在短时间内激发出潜在的失效模式和缺陷。
二、设备介绍
我们的 HAST 测试设备配备了精准的温度、湿度和压力控制系统。能够迅速且稳定地达到并维持设定的测试条件。其先进的密封技术有效防止湿气和压力泄漏,确保测试环境的一致性。同时,具备实时监测和数据记录功能,**记录测试过程中的各项参数变化。
三、测试项目
电子元器件可靠性评估:检测芯片、电阻、电容等在恶劣环境下的性能稳定性。
封装材料老化测试:分析封装材料在高温高湿高压下的老化程度。
电路板失效分析:查找电路板在极端条件下可能出现的短路、断路等问题。
四、测试标准
在 HAST 测试中,常见的测试标准有 JESD22-A118、IEC 等。这些标准详细规定了测试的条件、持续时间、样品数量以及评估方法,为测试的准确性和可比性提供了保障。
HAST 测试能够帮助您在产品研发和生产阶段,提前发现潜在问题,优化产品设计,提高产品的可靠性和市场竞争力。