日立X-Strata920全自动镀层膜厚仪，测量好，快速无损测量

谱赛斯公司介绍：

深圳市谱赛斯科技有限公司成立于2014年，公司是从事精密仪器研发、生产、制造和进口仪器代理销售及技术支持服务为一体的科技企业。公司长期以来和日本日立保持友好合作伙伴关系，我们一直是日立分析仪器正式授权的销售、服务代理。

X射线荧光镀层测厚仪的技术演进：

开创性产品（1978年）：SFT155/156作为世界上首台X射线镀层测厚仪，实现了合成微小面积镀层的测量，奠定了行业基础。

功能扩展（后续机型）：

SFT158引入大型样品台，适应线路板等大尺寸样品的测量需求。

SFT157系列通过CCD摄像头和自动校正功能，提升了操作便捷性与测量精度。

技术突破（SFT7000至SFT9000系列）：采用自行开发的半导体检测器，显著提升了薄膜镀层的检测灵敏度。

微聚焦与高精度（SFT3000系列）：通过微聚焦管球和Φ50μm准直器，实现了更小区域的测量。

多检测器融合（SFT9500系列）：同时搭载比例计数管与半导体检测器，进一步拓宽了应用范围。

当前技术（X-Stata系列与STS500系列）：引入Vortex检测器和毛细管技术，提升了复杂镀层测量的效率与准确性。

膜厚仪概述：

可用于电子元器件、半导体、PCB、FPCLED支架、汽车零部件、功能性电镀、装饰件、连接器、端子、卫浴洁具、首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量及材料分析，低成本高效率。

日立牛津X-strata920X射线荧光膜厚仪特点：

针对X-Strata920，所使用的X射线光学系统，采用的是微聚焦型X射线管+准直器的组合来控制X射线照射在样品上的光斑的大小，可以达到更好的样品激发效果。

目前美国排名位的PCB生产商都在使用CMI各种型号的测厚仪。针对PCB板表面镀层的测量，CMI提供的Epoxy标准样片对仪器进行 校准，也可以使用用户现场的PCB板材来进行校准，确保达到好的校准精度。

日立牛津X-strata920X射线荧光膜厚仪优势：

牛津920膜厚仪具有高可靠性、坚固、耐用，测试精度达到0.00001um,测试范围广，测试速度快，能够快速鉴定出金属牌号。

日立牛津X-strata920X射线荧光膜厚仪参数展示：

Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制

样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm

大样品高度160mm

样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm

仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm(不含电脑和显示器)

自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度大于160mm的样品测量，仓内抽屉式设计，多个位置上下可调，每格高度25.4mm

准直器选择多样化