STI测试夹具

是将 ST 芯片（TO‑247、D²PAK、QFN、SO‑8 等封装）压入接触探针的测试座

装在 ATE（自动测试设备）上进行参数分选

连接示波器、功率分析仪、双脉冲测试台或栅极驱动电路

可进行：静态 IV 测试、动态 Rds(on)、开关损耗、双脉冲测试（DPT）

STI（Scientific Test, Inc.）测试夹具是美国 STI 公司为其 5000 系列分立器件参数测试仪（如 5000E/5300C/5300HX）配套的标准化测试夹具（Test Fixture），用于将被测分立半导体器件（二极管、BJT、MOSFET、IGBT 等）可靠接入测试系统，尤其以开尔文四线制（Kelvin Connection）设计著称，适合功率器件 Rds(on)、Vf 等低阻参数精密测试。