- 发布
- 天津良益科技股份有限公司
- 品牌
- 天津良益
- 厚度范围
- 20nm-50um(只测膜厚），100nm-10um(同时测量膜厚和光学常数n,k）根据薄膜材料的种类，其范围有所不同
- 准确度
- <1nm或<0.5%
- 可测层数
- 1-4层
- 起订
- 1台
- 供应
- 10000台
- 发货
- 30天内
- 电话
- 13821236129
- 手机
- 13821236129
- 发布时间
- 2018-12-11 13:34:41
LCL-13型薄膜测厚仪根据多次反射光谱相干原理，本仪器可提供非接触测量薄膜厚度，折射率，吸收系数等；采用最新软件版本，具有纳米级精确测量和方便使用等优点；测量方便度和准确度远好于常用光学椭偏仪。是薄膜研究，光学镀膜，和半导体生产不可缺少的测量研究仪器。
LCL-13薄膜测厚仪主要实验内容
学会薄膜和涂层的厚度测量及折射率和吸收系数的测定
LCL-13薄膜测厚仪实验原理
LCL-13薄膜测厚仪配置参数