牛津CMI165面铜测厚仪探针，CMI165用探针

便携式测厚仪CMI165专用。

SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头

--利用微电阻原理和独有的温度补偿功能通过四针式SRP-T1探头进行铜厚测量，符合EN 14571测试标准

--厚度测量范围：化学铜：0.25 - 12.7 μm(0.01 - 0.5 mils)
                            电镀铜：2.0 - 254 μm(0.1 - 10 mils)

--仪器再现性:  0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)

--强大的数据统计分析功能，包括数据记录平均数、标准差和上下限提醒功能

--仪器的操作界面有英文和简体中文两种语言供选择

--仪器无需特殊规格标准片，可实现蚀刻后的线型铜箔的厚度测量，可测线宽范围低至0.2 mm

--仪器可以储存9690条检测结果（测试日期时间可自行设定）

--测试数据通过USB2.0实现高速传输，也可保存为Excel格式文件

--仪器为工厂预校准

--客户可根据不同应用灵活设置仪器

--用户可选择固定或连续测量模式

--仪器使用普通AA电池供电