ZEISS场发射扫描电子显微镜

 蔡司场发射扫描电子显微镜ZEISS Sigma系列产品

用于高品质成像与**分析的蔡司场发射扫描电子显微镜

灵活的探测，4步工作流程，**的分析性能

将**的分析性能与场发射扫描技术相结合，利用成熟的 Gemini 电子光学元件。多种探测器可选：用于颗粒、表面或者纳米结构成像。Sigma 半自动的4步工作流程节省大量的时间：设置成像与分析步骤，提高效率。

Sigma 300 ****。Sigma 500 装配有**的背散射几何探测器，可快速方便地实现基础分析。任何时间，任何样品均可获得准可重复的分析结果。

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灵活的检测器选项，获取清晰图像

使用新颖的ETSE和Inlens探测器在高真空下获取高分辨率表面形貌信息。

使用VPSE或C2D检测器在可变压力模式下获得清晰图像。

使用aSTEM检测器生成高分辨率透射图像。

使用HDBSD或YAG检测器分析成分。

用户友好,操作简单

　　自动化加速工作流程

　　4步工作流程让您控制 Sigma 的所有功能。在多用户环境中，从快速成像和节省培训首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

　　首先，先对样品进行导航，然后设置成像条件。

　　接下来对样品感兴趣的区域进行优化并自动采集图像。后使用工作流程的后一步，将结果可视化。

　　分析型显微镜

　　将扫描电子显微镜与基本分析相结合：Sigma 流的背散射几何探测器大大提升了分析性能，特别是对电子束敏感的样品。

　　在一半的检测束流和两倍的速度条件下获取分析数据。

　　获益于8.5 mm 短的分析工作距离和35°夹角，获取完整且无阴影的分析结果。