晶振测试系统编辑

主要功能特性



l 由微机、射频开关和高分辨率计数器组成自动测试系统



l 可用于晶振老化测试和温度测试，自动完成老化漂移、稳定度、准确度、日波动等参数的测量



l 通过射频开关的组合，可组成64-N路测试矩阵



l 自动记录储存测试数据，自动形成测试曲线



主要技术指标

频率范围：DC～100MHz

隔离度：120dB(5MHz); 90dB (100MHz)