一、光学显微镜法
原理
利用光学显微镜对金属镀层进行截面观察。将带有镀层的金属样品进行镶嵌、研磨和抛光，制成金相试样，使镀层的截面清晰可见。然后通过显微镜的目镜和物镜组合来测量镀层厚度。
适用范围和精度
适用于镀层厚度较厚（一般大于 1μm）的情况。其精度可以达到 ±0.5μm 左右。例如在一些镀铜层较厚的线路板检测中，能够有效地测量出镀层厚度。
二、扫描电子显微镜（SEM）法
原理
SEM 可以对样品表面进行高分辨率成像。通过观察镀层和基体之间的界面，结合软件测量工具，可以精确测量镀层的厚度。它能够提供清晰的微观形貌，对于多层镀层的结构和厚度分析也很有效。
适用范围和精度
可用于各种镀层材料和基体组合，尤其适用于检测微观结构复杂的镀层。精度较高，对于薄镀层（可达几十纳米）也能准确测量，误差一般在 ±10nm 左右。比如在检测纳米级别的贵金属镀层时非常有用。
三、X 射线荧光光谱（XRF）法
原理
XRF 是一种非破坏性的检测方法。当 X 射线照射到镀层样品上时，镀层元素会发出特征荧光 X 射线。通过测量荧光 X 射线的强度，根据已知的元素灵敏度等参数，就可以计算出镀层的厚度。
适用范围和精度
适用于多种镀层元素的检测。对于较厚的镀层（从几微米到几百微米）精度较高，误差可以控制在 ±1 - 2μm 左右。在汽车、电子等行业中广泛用于检测镀锌、镀铬等镀层厚度。
四、库仑法
原理
基于电化学溶解原理。将带有镀层的样品作为阳极，在合适的电解液中进行电解。通过测量电解过程中消耗的电量，根据法拉第定律来计算镀层的厚度。
适用范围和精度
适用于导电性镀层，精度较高，对于厚度在 0.1 - 100μm 的镀层，误差可达到 ±0.05μm 左右。在检测电镀镍、电镀铜等镀层厚度方面应用较多。