FARO CREAFORM 算法升级使复杂表面扫描效率提升六成

发布时间:2026-04-16 05:08  点击:1次
FARO CREAFORM 算法升级使复杂表面扫描效率提升六成

西班牙及拉丁美洲工业计量领域近期迎来重要技术更新。****的3D扫描与便携式三坐标测量机(CMM)解决方案提供商FARO CREAFORM(隶属于AMETEK集团)宣布,对其激光线探针(LLP)系列进行重大软件升级。此次更新专为配合Quantum X FaroArm®和Quantum Max FaroArm系列设计,旨在解决工业界长期面临的复杂表面扫描难题,特别是在高对比度、深色、光亮或反光材质上的数据采集效率问题。

在化工、汽车及精密制造等西班牙语国家主导的行业中,接触式测量往往受限,非接触式激光扫描成为关键手段。然而,面对具有特殊表面处理的工件,传统扫描常需多次调整、手动干预或增加扫描次数,导致数据获取周期延长。此次升级引入了经过优化的图像处理算法,通过改进DTEX(FARO CREAFORM认证的LLP处理流程)核心逻辑,直接提升了图像数据的质量与一致性。测试数据显示,在处理典型的高难度工件时,数据获取时间缩短了高达60%,同时保证了测量结果的完整性与精度,无需牺牲数据质量换取速度。

除了核心算法的突破,此次更新还重新强调了FARO 8‑Axis Max旋转工作台的战略价值。这款计量级旋转台专为扩展FaroArm系统的测量范围而设计。当与Quantum X FaroArm及新版LLP配合使用时,它通过内置编码器**测量工件旋转角度,并将数据与手臂扫描数据实时同步,形成统一的坐标测量工作流。这种组合不仅实现了对大型或复杂工件的全覆盖扫描,还显著减少了设备移动次数,优化了操作人员的 ergonomics(人机工程学),同时确保所有结果均可追溯至符合ISO 17025标准的校准流程。

此次软件升级全面兼容FAROBlu®系列全线激光线探针产品,包括提供最高分辨率的FAROBlu® xR、追求**扫描效率的FAROBlu® xS,以及兼顾分辨率与效率的FAROBlu® xP。这意味着,无论是需要检测微小关键特征的精密部件,还是对生产效率要求严苛的制造场景,用户均可通过软件更新获得性能提升。Quantum X FaroArm®系列因此能够更广泛地适应各种表面 finish(表面处理)的工件,支持从逆向工程到质量控制的全流程作业,且无需用户购买新硬件即可享受技术红利。

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