安立（Anritsu）宣布将参加于2026年10月13日至16日在千叶县幕张美咲举办的“CEATEC 2026”展会。本次参展主题为“社会变革始于测量，让不可见的世界通向可见的未来”，公司将展出长期积累的测量技术在人工智能、电动汽车、食品制造及航天等多个领域的应用成果。
在人工智能应用领域，安立将展示基于AI的测量导航技术、面向数据中心的专业测量仪器以及半导体相关技术，重点介绍助力AI数据中心实现高速化与大容量化的前沿测量方案。
在电动汽车与移动出行领域，公司将展出自动紧急呼叫系统的评价与认证试验自动化解决方案。还公开了无需实车即可模拟重现电动汽车充电与行驶状态的评估方案，旨在降低评价工时并缩短开发周期。
食品制造方面，安立将展示搭载AI的X射线异物检测机，用于在生产线上高灵敏度识别混入异物，提供保障食品安全的品质检验技术。在航天领域，公司将介绍曾支持NASA“阿尔忒弥斯二号”（Artemis II）载人绕月任务发射前测试与验证的数据采集与测量技术，该任务为阿波罗17号以来近半个世纪的首次NASA载人绕月飞行。
展会期间，安立于10月15日在会场E舞台（8号馆）举办专题演讲，主题为《安立“测量”技术的演进与制药制造的未来——全球首款透射型近红外（NIR）药片全数检查装置Ariphas》。演讲将解析利用透射型近红外技术对药片内部异常进行逐片、非破坏性全数检测的全新药品质量管理方法。
安立此次共设两个展位，分别为4号馆（展位号4H550）和8号馆（展位号8H101，位于CIAJ全光网络展馆内）。展会每日开放时间为10:00至17:00。
资料来源：レスポンス（Response.jp）；原文发布日期：2026-10-08。本文为资料编译。