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九域半导体科技(苏州)有限公司
TCO膜薄膜方阻测试仪
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非接触霍尔效应测试系统
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TCO膜玻璃方阻测试系统
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非接触霍尔测试系统
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少子寿命少数载流子寿命测试
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手持式非接触晶锭晶棒硅棒电阻率测试仪
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硅棒晶棒晶锭BCT400少子寿命测试仪
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非接触方阻-霍尔迁移率一体机
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锂电ITO薄膜非接触方阻测试仪
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非接触红外少子寿命WCT120C测试仪
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非接触少子寿命BCT-400C测试仪
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高精密半绝缘碳化硅电阻率测试
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高精密半绝缘碳化硅方阻测试
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高精度厚度标准片
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高精度电阻率方阻标准片
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高功率红外微波法少子寿命
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晶圆硅片平面度翘曲度厚度TTV测试仪
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高精度光学少子寿命测试仪
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红外激光少子寿命测试仪
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涡流法金属薄膜电阻率测试仪
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非接触金属薄膜方阻测试
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碳化硅半绝缘电阻率测试仪
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碳化硅氮化镓氧化镓晶圆厚度TTV测试仪
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蓝宝石厚度TTV测试仪
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非接触厚度TTV测试仪
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非接触半绝缘电阻率测试仪
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玻璃电阻率方阻测试
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非接触霍尔迁移率测试系统
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非接触式晶锭电阻率测试仪
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微波法霍尔迁移率
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无损方块非接触式电阻率测试
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金属薄膜涡流法电阻率测试仪
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涡流法电阻率测试仪
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汞CV测试仪
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PN型测试仪
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迁移率(霍尔)测试仪
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