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- 2022-09-24 10:56:39
半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,吉林XRD掠入射(GIXRD),从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
晶体晶粒细化,XRD掠入射(GIXRD)服务,多晶试样中存在宏观应力时,衍射花样的变化情况是怎样? 不管是粉末试样还是(多)晶体试样,XRD掠入射(GIXRD),粉末颗粒或晶粒太粗,参加衍射的晶粒少,会使衍射线条起麻,XRD掠入射(GIXRD)费用,衍射的重现性但粉末颗粒或晶粒过细时,会使衍射线条变宽,这些都不利于分析工作。存在宏观内应力的效应是使得衍射环或衍射峰的位置改变,导致底片上的衍射线条变宽,不利于分析工作。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~XRD掠入射(GIXRD)
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我想知道不同衍射角对应的晶面,怎么办?
如果你的图能够找到对应的粉末衍射数据卡,那么问题就简单了。多数的粉末衍射数据卡上面都给出了各衍射线的衍射指标,也就可以知道对应的晶面了。
如果是未知晶体结构的图,就需要求解各衍射线的衍射指标,这一步工作叫做"衍射图的指标化"。如自己解决需要具备基础的晶体学知识,然后学会一两个指标化的工具软件(如treaor90)进行尝试。
欢迎来电咨询科学院半导体研究所了解更多信息~
半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一,主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究,兼顾重大技术应用的基础研究,从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究,以及行业应用技术开发。
XRD主要测什么?
1、晶体结构分析;
2、物相定性分析;
3、物相定量分析;
4、晶粒大小分析;
5、结晶度分析;
6、宏观应力和微观应力分析;
7、择优取向分析
XRD图谱怎么分析?
1、在衍射仪获得的XRD图谱上,如果样品是较好的"晶态"物质,图谱的特征是有若千或许多个一般是彼此独立的很窄的“尖峰”。
2、如果这些“峰”明显地变宽,则可以判定样品中的晶体的颗粒尺寸将小于300nm,可以称之为"微晶"。
3、Scherer(118)揭示了衍射峰的增宽是对应晶面方向上的原子厚度(县数|不足以在偏离Bragg条件下相干减弱(destructivelyinterference)衍射峰。当衍射峰宽度增加到接近其高度时(或高度下降到接近其宽度时),可认为样品是非晶。
4、同一物质的话,峰窄说明晶粒比较大,和结晶度无关。同一台仪器测试且测试条件相同的情况下,峰高的比较多才能说明结晶情况较好
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