台湾半导体XRD测试 半导体XRD研究所

半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，半导体XRD测试服务，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。

对于正交晶系的晶胞参数，其中 a、b、c 代表晶胞的三个棱的长度。但我不清楚如何定义a、b、c 的方向，也就是说按照什么依据确定这三条棱的方向？是否有明确的规定还是可以任意自定义？

　　一般来说可以用 a lt; b lt; c 的定向原则，其实，用什么方向都可以，它们可以通过矩阵来转换。

　　晶胞中的 a，b，c，分别是三个晶轴方向上的单位平移向量的长度，称为轴长，不是"三个棱"的长度。轴长符号也常用 a0，台湾半导体XRD测试，b0，c0 表示。轴长单位常用?（埃，Angstrom，=10-10 米）或纳米（nm，=10-9米）。在晶体结构中没有"棱"这样一种说法，只有晶体坐标系，而这个坐标系是用 a，b，c，α，β，γ 六个参数来表示的，α，β，γ 分别代表三个轴间的夹角。而"晶棱"是指晶体的外形的棱边。所以说"a、b、c 代表晶胞的三个棱的长度"是错误的。

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X射线衍射技术(XRD技术)在电池领域的应用

电芯失效分析

　　锂离子电池在使用过程中，经常由于过充、过放、短路、高温等原因造成电芯寿命减少，甚至失效。因此应用XRD技术来进行锂离子电池的热失效分析，如从燃烧的残留物进行XRD分析，初步判断失效原因。

硬射线探测技术可在Empyrean衍射平台上使用硬射线XRD对软包结构锂电池和商用成品锂电池进行原位充放电衍射实验，从而为全电池结构的失效分析和工艺控制提供了新的重要的无损分析手段。

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便携式XRD分析仪

　　布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射需要满足的基本条件，其反映了衍射线方向和晶体结构之间的关系。

　　布拉格方程：2dsinθ=nλ

　　其中，θ为入射角、d为晶面间距、n为衍射级数、λ为入射线波长，2θ为衍射角

　　X射线发生系统（产生X射线）是“太阳”，半导体XRD测试费用多少，测角及探测系统（测量2θ和获得衍射信息）是其“眼睛”，记录和数据处理系统是其“大脑”，半导体XRD测试价格，三者协同工作，输出衍射图谱。X射线在晶体中的衍射现象来获得衍射后X射线信号特征，经过处理得到衍射图谱。

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