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- 2022-10-07 11:00:55
半导体XRD测试——广东省科学院半导体研究所是广东省科学院下属骨干研究院所之一，主要聚焦半导体产业发展的应用技术研究，兼顾重大技术应用的基础研究，从事电子信息、半导体领域应用基础性、关键共性技术研究，以及行业应用技术开发。
[物相分析方面的问题] 样品卡与标准卡对比原则？
提供几条原则供大家参考：
1. .对比 d 值比对比强度要重要；
2. 低角度的线要比高角度的线要重要；
3. 强线比弱线重要；
4. 要重视特征线；
5. 同一个物相可能有多套衍射数据，但要注意有的数据是被删除的；
6. 个别低角度线出现缺失；
7. 由于样品择优取向某些线的强度会发生变化；
8. 有时会出现无法解释的弱线，这是正常的，不能要求把所有的线都得到解释。
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X 射线衍射是通过 X 射线在样品中的衍射现象，利用衍射峰的位置和强度，上海大功率XRD，来定性分析材料的结晶类型、晶体参数、晶体缺陷、不同结构相的含量等。对于应用于储能、催化等领域的材料而言，其晶体结构往往会随着反应的进行发生演变，大功率XRD多少钱，而非原位XRD只能检测到某―状态下材料晶体结构的转变，很难准确得到关于材料在整个转变过程中的相关信息，尤其是关于电极材料相变和结构演变的研究。为重要的是，整个过程存在因电极材料暴露于空气中，而破坏掉真实状态的风险，大功率XRD选哪家，非原位XRD测试往往不能很好地还原电池材料在充放电过程中的真实状况。原位XRD作为一种XRD的衍生测试手段，可以很好的解决非原位XRD测试过程中的诸多问题。
原位XRD技术早就已运用到材料科学研究中，主要用于对物质的组成和结构进行鉴定和研究:
(1）原位XRD在材料反应过程中得到实时的结构变化信息，可以深入的认识材料在充放电过程中发生的反应，对如何进一步改进材料具有重要的指导意义;
(2）原位XRD的测试可以在短时间内得到大量可对比信息，由于原位XRD技术在测试的整个过程中是针对同一材料的相同位置进行测试，因而通过该测试手段所得到的信息(晶胞参数、峰强度等参数)具有相对可比性，可以得到一系列实时的结构变化信息。
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布拉格方程——XRD理论的基石
布拉格方程是X射线在晶体中产生衍射需要满足的基本条件，其反映了衍射线方向和晶体结构之间的关系。
布拉格方程：2dsinθ=nλ
其中，θ为入射角、d为晶面间距、n为衍射级数、λ为入射线波长，大功率XRD联系方式，2θ为衍射角
注意：
（a）凡是满足布拉格方程式的方向上的所有晶面上的所有原子衍射波位相完全相同，其振幅互相加强。这样，在2θ方向上面就会出现衍射线，而在其他地方互相抵消，X射线的强度减弱或者等于零
（b）X射线的反射角不同于可见光的反射角，X射线的入射角与反射角的夹角永远是2θ。
（3）谢乐公式——测晶粒度的理论基础
X射线的衍射谱带的宽化程度和晶粒的尺寸有关，晶粒越小，其衍射线将变得弥散而宽化。谢乐公式又称Scherrer公式描述晶粒尺寸与衍射峰半峰宽之间的关系。
K为cherrer常数，B为衍射峰半宽高，K=0.89，若B为衍射峰积分宽度，k=1
θ为衍射角、λ为x射线波长，d为垂直于晶面方向的平均厚度
注意：利用该方程计算平均粒度需要注意：
（1）为半峰宽度，即衍射强度为极大值一半处的宽度，单位为弧度
（2）测定范围3-200nm
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